B1SL美國GE超聲波探傷儀探頭

美國GE超聲波探傷儀探頭B1S簡介

B1S美國GE超聲波探傷儀探頭主要特性：

•單晶探頭進行聲波脈沖的發射和接收

•縱波的垂直傳輸

•由于柔性的抗磨損保護膜而具有穩定的耦合特性，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上

•特殊的粗晶探頭，在測試高的聲波衰減材料時，利用短的聲波脈沖可以達到高信噪比

•由于采用印模壓鑄成型，因此實際形狀具有很高的穩定性

B..SL： 用于測試這樣一類中等尺寸和大尺寸物體，它們由于具有長的聲程（例如大的鍛件或球墨鑄鐵）而會導致大的聲波衰減。它們也適合用于測試具有強的聲波吸收特性的塑料（例如尼龍、特氟龍、聚丙烯），為增加靈敏度和分辨率，可以將保護膜去掉。

美國GE超聲波探頭B2F簡介

主要應用：
通常：對所有類型零件體內或沿表面分布的缺陷的探測和評估。可以用于有保護膜的探頭不適合的有鋒利邊緣的物體的測試。

指尖探頭B..F和MB..F：可以與探頭K..G和K..N相比較，但是由于扁平設計，它們非常適合于那些不容易接近的位置的測試。經常被稱作"搜索探頭"。

主要特性：
1.單晶體探頭，用于超聲脈沖的發射和接收
2.光滑表面上具有高的增益儲備和非常好的分辨率
3.陶瓷接觸表面的探頭有高的抗磨損性
4.特殊的平指尖式探頭
5.帶可互換延遲線的探頭具有*的近場分辨率
6.縱波的垂直掃描

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