MB4S美國GE超聲波探傷儀探頭

簡介:
主要特性：
1.單晶探頭進(jìn)行聲波脈沖的發(fā)射和接收
2.縱波的垂直傳輸
3.由于柔性的抗磨損保護(hù)膜而具有穩(wěn)定的耦合特性，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上
4.特殊的粗晶探頭，在測試高的聲波衰減材料時，利用短的聲波脈沖可以達(dá)到高信噪比
5.由于采用印模壓鑄成型，因此實(shí)際形狀具有很高的穩(wěn)定性
B..S和MB..S：這類探頭的公差分布范圍窄，對目前大多數(shù)的測試任務(wù)來說（例如平板物、條狀物和方形輪廓物體的測試，以及容器和螺釘、螺孔和外殼等的測試），可以達(dá)到zui高的精度要求。對于由多種材料（例如所有的金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）構(gòu)成的形狀簡單的部件的測試也可以達(dá)到高精度要求。
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美國GE超聲波探頭MB4F簡介

指尖探頭B..F和MB..F系列探頭：MB4F特性 與K..G和K..N探頭相類似，由于其扁平設(shè)計(jì)，它們非常適合于那些不容易接近的位置的檢測。經(jīng)常被用作“搜索探頭”。

MB4F主要應(yīng)用： 通常：對所有類型零件內(nèi)部或近表面分布缺陷的探測和評估。可以用于有保護(hù)膜的探頭不適合于有鋒利邊緣的物體檢測。

主要特性：
1.單晶體探頭，用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
2.光滑表面上具有高的增益儲備和非常好的分辨率
3.陶瓷接觸表面的探頭有高的抗磨損性
4.特殊的平指尖式探頭
5.帶可互換延遲線的探頭具有*的近場分辨率
6.縱波的垂直掃描

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美國GE超聲波探頭MB2F簡介

指尖探頭B..F和MB..F系列探頭：
與K..G和K..N探頭相類似，由于其扁平設(shè)計(jì)，它們非常適合于那些不容易接近的位置的檢測。經(jīng)常被用作“搜索探頭”。
美國GE超聲波探頭MB2F主要特性：
1.單晶體探頭，用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
2.光滑表面上具有高的增益儲備和非常好的分辨率
3.陶瓷接觸表面的探頭有高的抗磨損性
4.特殊的平指尖式探頭
5.帶可互換延遲線的探頭具有*的近場分辨率
6.縱波的垂直掃描

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